Küçük Farkları Bul
- Genişletilmiş ölçüm aralığı: 10 nm – 3.500 µm
- Lazer kırınımı artı gelişmiş Polarizasyon Yoğunluğu Diferansiyel Saçılma (PIDS) teknolojisi, 10 nm’ye kadar gerçek verilerin yüksek çözünürlüklü ölçümüne ve raporlanmasına olanak tanır
- Tek bir numunede birden fazla partikül boyutunun doğru ve güvenilir şekilde saptanmasını sağlar
Kullanımı Kolay Yazılım
- ADAPT Yazılımında otomatik başarılı/başarısız kontrolü bulunur
- Önceden yapılandırılmış yöntemler, 3 veya daha az tıklamayla sonuç verir
- Hem uzmanlar hem de acemi kullanıcılar tarafından analizör çalışmasını basitleştirir
- Geçmiş verilerle tek tıklamayla yer paylaşımı
- Sezgisel kullanıcı teşhisi, numune alma sırasında sizi bilgilendirir
- Standartlaştırılmış ölçümler için basitleştirilmiş yöntem oluşturma
ADAPT Yazılımı, 21 CFR Bölüm 11’i etkinleştirir
- Farklı ihtiyaçları karşılamak için özelleştirilebilir güvenlik sistemi
- 4 güvenlik seviyesinden birini seçin
- Yüksek güvenlikli yapılandırma, 21 CFR Bölüm 11‘i destekler
10 nm Parçacıkların Doğrudan Tespiti için PIDS Teknolojisi*
- 3 ışık dalga boyu (450, 600 ve 900 nm) örnekleri dikey ve yatay polarize ışıkla ışınlar
- Analizör, numunelerden yayılan ışığı çeşitli açılardan ölçer
- Her dalga boyu için yatay ve dikey olarak yayılan ışık arasındaki farklar, yüksek çözünürlüklü parçacık boyutu dağılım verileri sağlar
